专利名称: 基于表面增强拉曼散射效应的单根硅纳米线实时检测单分子的方法
专利类别: 发明
申请号: 200910241971.4
申请日期: 2009-12-16
专利号: ZL200910241971.4
第一发明人:
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国外申请方式:
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实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
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