结构分析室仪器

双球差校正透射电镜

稿件来源: 发布时间:2020-03-23

 

  仪器型号:JEM-ARM300F

  生产厂家:日本电子

  操作方式:管理人员与用户操作相结合

  放置地点:1号楼105房间

  服务时间:周一至周五,8:00-17:00

  管理人员:夏静、李玄泽

  联系方式:010-82543562,15652752980(微信同步);xiajing@mail.ipc.ac.cn,lixuanze@mail.ipc.ac.cn

  仪器简介:JEM-ARM300F球差校正透射电镜配备了JEOL自主研发的球差校正器,实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,透射配有能谱、能量过滤像和环境样品台等附件,是一款原子级分辨率透射电子显微镜。主要技术指标:电子源和高压:冷场枪,电压可调(60~3000KV);分辨率:TEM模式下,晶格分辨率0.06nm(300KV),0.136nm(60KV);STEM-HAADF分辨率为0.063nm(300KV),0.136nm(60KV);能量分辨率:0.3ev(300KV);校正器:ETA校正器;极靴:WGP大极靴;样品倾斜角:常规双倾杆,X方向±25°,Y方向±25°;三维重构样品杆,最大倾斜角 ±70°;EDS:JEOL双能谱,可实现点扫、线扫和面扫;成像系统:Gatan OneView快速成像相机,Gatan Quantum Dual EELS;样品杆:单/双倾杆,DENS solutions加热杆和气体杆,Gatan 加热和液氮杆。可实现实验模式:HRTEM、SEAD、CBD、NBD、ADF、HAADF、LAADF 、ABF、STEM-EELS 二次电子成像、EFTEM、三维重构、原位加热等。

  功能用途:可实现亚埃分辨率下对结构与物性的精细分析,包括原子尺度缺陷结构的物理化学性质测定、轻元素的直接观测、精细电子结构的测定、表界面结构与物性、器件与异质结构有效的精确表征等。可开展亚埃尺度的晶体结构、电子结构、电子价态、成份分布等现代透射电子显微学前沿课题的研究,探测材料的物理化学性质,深入理解材料的结构和物理性能之间的关联。

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